設計の品質を“見える化”
開発期間とコストの最適化を支援
プリント基板シミュレーションを活用することで、インピーダンス、伝送特性、クロストーク、EMIノイズなどの課題を設計初期の段階で可視化・解析。
製造後の不具合や性能劣化リスクを未然に防ぎ、手戻りのない高精度な設計を実現します。
開発期間の短縮とコスト削減を両立しつつ、量産時の安定性や製品信頼性までを見据えた設計品質の向上を支援します。
設計の品質を“見える化”
開発期間とコストの最適化を支援
プリント基板シミュレーションを活用することで、インピーダンス、伝送特性、クロストーク、EMIノイズなどの課題を設計初期の段階で可視化・解析。
製造後の不具合や性能劣化リスクを未然に防ぎ、手戻りのない高精度な設計を実現します。
開発期間の短縮とコスト削減を両立しつつ、量産時の安定性や製品信頼性までを見据えた設計品質の向上を支援します。
設計初期段階から伝送線路の解析を行い、信号品質を保つための最適な部品配置・配線を実施。実機検証時に発生するムダな費用と時間を削減し、設計の後戻りをなくして開発期間短縮・コスト削減をサポートします。
EMI解析により不要電磁波放射(放射ノイズ・輻射)の原因を特定・抑制し、試作後の対策時間・コストを大幅に削減します。プレーン共振解析では電源プレーンの共振周波数を特定し、ノイズやEMIの原因となる共振現象を抑制。解析結果をもとに電源形状の見直しやコンデンサ追加で対策します。
必要資料:層構成表/信号周波数 ※2層基板は対応不可
電源品質解析では、インプットインピーダンス特性やIRドロップを評価し、ICへの安定した電源供給を確保します。
周波数特性を評価し、電源形状の見直しやコンデンサ追加でターゲットインピーダンス以下に抑え、ノイズ耐性を向上させます。
必要資料:解析ICのターゲットインピーダンス値/ICの電圧・消費電流(mA)/層構成/各コンデンサのSパラメータ(社内保有)
電流経路の電圧降下を定量的に評価し、ICの動作電圧を確保。電源形状やVIA個数を調整して対策し、電圧降下による不具合を防止します。
必要資料:解析電源の電流値・電圧値/層構成/電圧降下の許容範囲
高速差動信号などの伝送品質を、協力会社と連携して精密に解析・改善します。
パットやVIAのインピーダンスを解析・調整。配線幅に対しパット幅が大きく異なる場合は、パット直下のGNDを抜く・VIA周囲の銅箔との距離を調整するなどでインピーダンスの不連続をなくし整合させます。
必要資料:層構成/信号速度/配線層の指定/VIA径/部品のランド形状 等
S11(反射特性)・S21(透過特性)を評価し、信号がどの程度反射・透過するかをグラフ化。問題があれば配線インピーダンスやパットの抜き等を再調整して改善します(差動信号は SDD11・SDD21 で評価)。
必要資料:コネクタSパラメータ/リターンロスの閾値/層構成